Veille scientifique
Livres
- Morlaix, S. (dir.) (2020). Le numérique à l'école primaire. Analyse des effets conjoints sur les élèves et les enseignants. Paris, France. L'Harmattan. https://www.editions-harmattan.fr/index.asp?navig=catalogue&obj=livre&no=65405
- Lacour, P. (2020). La raison au singulier. Réflexions sur l'épistémologie de Jean-Claude Passeron. Paris, France. Presses universitaires de Paris Nanterre. https://presses.parisnanterre.fr/?p=4564
- Ferréol, G. (2020). La persévérance scolaire : regards croisés. Paris, France. L'Harmattan. https://www.editions-harmattan.fr/index.asp?navig=catalogue&obj=livre&no=65489
- Coulon, A. (2020). L'école de Chicago. Paris, France. PUF - Que sais-je ?. https://www.puf.com/content/Lécole_de_Chicago
- Lam, I. T. (2020). Entreprendre en milieu éducatif africain : Les leviers du succès ! Exemple inspiré du contexte malien. Paris, France. L'Harmattan. https://www.editions-harmattan.fr/index.asp?navig=catalogue&obj=livre&no=65655
Périodiques professionnels
Revues
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Journal of Curriculum Studies, 54(6) 2022 Consulter
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Review of Educational Research, 92(6) 2022 Consulter
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Revue canadienne de l'éducation, 45(3) 2022 Consulter
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Research Papers in Education, 37(6) 2022 Consulter
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Recherche & formation, 1(96) 2018 Consulter
Dossier de Veille de l`Institut français de l`éducation (IFÉ)
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Dossier de veille de l'IFÉ, n° 134, avril 2020 Consulter
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Dossier de veille de l'IFÉ, n° 133, mars 2020 Consulter
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Dossier de veille de l'IFÉ, 131, septembre 2019 Consulter
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Dossier de veille de l'IFÉ, 130, juin 2019 Consulter
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Dossier de veille de l'IFÉ, 129, mars 2019 Consulter
Colloques en éducation
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7e Conférence de l’Association Internationale de recherche en didactique de l’histoire et des sciences sociales (AIRDHSS) Consulter
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73e Congrès de l’IHAF (Institut d'histoire de l'Amérique française) Consulter
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Colloque Francophone International sur les Technologies Educatives Consulter
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Virtual launch of PISA 2018 Volume V, in collaboration with the Education Policy Institute Consulter
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2020 Asia Education Technology Symposium (AETS) Consulter